Les nouveaux outils de matériaux appliqués utilisent l'IA pour détecter les erreurs sur les puces

Stephen Nellis - Reuters - 16/03

Une nouvelle technologie de fabrication de semi-conducteurs d'Applied Materials utilise l'intelligence artificielle, ou IA, pour détecter plus efficacement les erreurs dans les puces, a déclaré mardi la société américaine.

Par Stephen Nellis

3 min de lecture

PHOTO DE FICHIER: Une plaquette de silicium est photographiée lors de la présentation médiatique du projet Guardian Angels dans l'une des salles blanches de nanofabrication à faible pollution particulaire de l'École polytechnique fédérale (EPFL) à Ecublens, près de Lausanne le 16 mai 2011. REUTERS / Valentin Flauraud

SAN FRANCISCO (Reuters) - Une nouvelle technologie de fabrication de semi-conducteurs d'Applied Materials utilise...
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Catégorie : Actualités Internet

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Article automatiquement traduit - Source et Copyright images et textes : Stephen Nellis - Reuters
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